JIS B 7271:2019
Портативный микроскоп для визуализации микробов

Стандартный №: JIS B 7271:2019
Дата публикации: 2019
Разместил: Japanese Industrial Standards Committee (JISC)
Последняя версия: JIS B 7271:2019

сфера применения: JIS B 7271:2019 определяет требования к портативным прицелам для визуализации микробов (далее именуемым прицелами для визуализации), которые позволяют наблюдать за бактериями и другими микробами главным образом на предприятиях пищевой промышленности на основе метода визуализации оптического микроскопа.

JIS B 7271:2019 История

2019 JIS B 7271:2019 Портативный микроскоп для визуализации микробов

Специальные темы по стандартам и нормам

Портативные приложения Портативная микробиологическая лаборатория Портативный измеритель биотоксичности портативная камера Портативная пыль Портативный микрофокус Портативный микробиологический детектор портативная камера

стандарты и спецификации

ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии BS ISO 21073:2019 Микроскопы. Конфокальные микроскопы. Оптические данные флуоресцентных конфокальных микроскопов для биологической визуализации CSA IEC 61000-4-4-06-CAN/CSA:2006 Электромагнитная совместимость (ЭМС). Часть 4-4. Методы испытаний и измерений. Испытание на устойчивость к быстрым переходным процессам/всплескам. Второе ISO 9345:2019 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность BS ISO 9345:2019 Микроскопы. Размеры интерфейса для компонентов визуализации BS 7012-1:1998 Световые микроскопы. Спецификация на увеличивающую силу компонентов микроскопа, обеспечивающих получение изображений ANSI/TIA/EIA 573C000-1998 Технические характеристики полевых портативных оптических микроскопов GSO ISO 28600:2013 Химический анализ поверхности. Формат передачи данных для сканирующей зондовой микроскопии ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих

© 2025. Все права защищены.