YD/T 702-2018
Метод тестирования оптических приемных компонентов PIN-FET (Англоязычная версия)

Стандартный №

YD/T 702-2018

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2018

Разместил

工业和信息化部

Последняя версия

YD/T 702-2018

заменять

YD/T 702-1993

YD/T 702-2018 История

• 2018 YD/T 702-2018 Метод тестирования оптических приемных компонентов PIN-FET
• 1994 YD/T 702-1993 Метод испытаний оптических приемных блоков