IEC TS 62804-1:2015
Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1. Кристаллический кремний

Стандартный №

IEC TS 62804-1:2015

Дата публикации

2015

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC TS 62804-1:2015

сфера применения

Данный стандарт определяет процедуры тестирования и оценки долговечности фотоэлектрических (ФЭ) модулей из кристаллического кремния при кратковременном воздействии высоковольтных нагрузок, включая деградацию, вызванную потенциалом (ДП). Определены два метода тестирования, которые по своей сути не эквивалентны по результатам. Они служат в качестве скрининговых тестов — ни один из тестов не учитывает все факторы естественной среды, влияющие на скорость ДП. Эти методы описывают, как достичь постоянного уровня нагрузки. Тесты, описанные в данной спецификации, предназначены для фотоэлектрических модулей из кристаллического кремния с одной или двумя стеклянными поверхностями и пассивирующим диэлектрическим слоем и применимы к механизмам деградации, включающим подвижные ионы или взаимодействие с электронами самого кремниевого полупроводника, которые влияют на электрическое поле кремниевого полупроводника. Данная спецификация не применима к оценке модулей, использующих тонкопленочную технологию, тандемные или гетероструктурные устройства. Данная спецификация описывает методы измерения способности конструкции модуля противостоять деградации, вызванной воздействием системного напряжения (проявляющейся в относительно кратковременном периоде). Испытания, описанные в данной спецификации, не предназначены для изучения некоторых кумулятивных эффектов, которые могут возникать в модуле в течение длительных периодов времени, таких как разрушение герметизации, что может привести к быстрому проникновению влаги и электрохимической коррозии. Данная спецификация не включает в себя освещение модуля, которое может влиять на скорость деградации. Методы испытаний предназначены для измерения чувствительности к ПИД-эффекту и будут предоставлять результаты, основанные на уровне напряжения и конфигурации заземления модуля, присущих каждому испытанию. Поскольку метод (а) (испытание в климатической камере) использует уровень влажности без конденсации в качестве проводящего пути для заземления, напряжение, приложенное к центру поверхности модуля, обычно невелико, и эффект ПИД-эффекта концентрируется на краях модуля. Метод (б) (контактная поверхность через заземленные проводящие электроды) оценивает чувствительность ячеек и влияние некоторых материалов герметизации модуля (таких как удельное сопротивление стекла и герметика), но не может различить эффекты некоторых методов производства, которые снижают ПИД-эффект, таких как использование задних направляющих кронштейнов, краевых зажимов и изоляционных рамок. Фактическая устойчивость модуля к воздействию системного напряжения зависит от условий окружающей среды, в которых он работает. Эти испытания предназначены для оценки чувствительности фотоэлектрических модулей к PID (подавлению деградации, вызванному фотоэлектрическим эффектом), без учета нагрузок, возникающих при реальной эксплуатации в различных климатических условиях и системах.

IEC TS 62804-1:2015 Ссылочный документ

• IEC 60410  Планы и процедуры отбора проб для проверки по признакам
• IEC 61215 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа
• IEC 61730-2 Исправление 1 — Квалификация безопасности фотоэлектрических (PV) модулей — Часть 2: Требования к испытаниям*， 2024-10-14 Обновление
• ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий [Стандарт на французском языке]*， 2017-11-01 Обновление

IEC TS 62804-1:2015 История

• 2015 IEC TS 62804-1:2015 Фотоэлектрические (PV) модули. Методы испытаний для обнаружения потенциально-индуцированной деградации. Часть 1. Кристаллический кремний

стандарты и спецификации