ISO 23124:2024
Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
- Стандартный №
- ISO 23124:2024
- Дата публикации
- 2024
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- Последняя версия
- ISO 23124:2024
- сфера применения
- В настоящем документе описывается метод измерения пространственного разрешения (латерального и осевого) рамановского микроскопа.
ISO 23124:2024 История
- 2024 ISO 23124:2024 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
Специальные темы по стандартам и нормам
разрешение микроскопа
Разрешение микроскопа a0
Разрешающая микроскопия
Измерение разрешения микроскопа
Измерение разрешения микроскопа
Измерение разрешения микроскопа
Разрешение флуоресцентной микроскопии
Разрешение флуоресцентной микроскопии
Разрешение флуоресцентной микроскопии
Разрешение флуоресцентной микроскопии
Измерение разрешения микроскопа
Как отличить микроскоп
стандарты и спецификации
BS ISO 23124:2024 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа
ISO/FDIS 23124:2023 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
ISO/DIS 23124:2023 Химический анализ поверхности — измерение латерального и осевого разрешения рамановского микроскопа.
23/30420097 DC BS ISO 23124 Химический анализ поверхности. Измерение латерального и осевого разрешения
ISO 13083:2015 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Стандарты по определению и калибровке пространственного разрешения электрических сканирующих
ISO 18115-3:2022 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 3. Термины, используемые в анализе оптического интерфейса
BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового
DIN ISO 18516:2020 Химический анализ поверхности. Определение поперечного разрешения и резкости лучевыми методами в диапазоне от нанометров до микрометров (ISO 18516:2019); Текст
ISO 18516:2019 Химический анализ поверхности. Определение поперечного разрешения и резкости лучевыми методами в диапазоне от нанометров до микрометров