IEC 62416:2010
Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов

Стандартный №

IEC 62416:2010

Дата публикации

2010

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 62416:2010

сфера применения

Этот стандарт описывает испытание горячих носителей на уровне пластины на транзисторах NMOS и PMOS. Тест предназначен для определения того, соответствуют ли отдельные транзисторы в определенном (C) МОП-процессе требуемому сроку службы горячих носителей.

IEC 62416:2010 История

• 2010 IEC 62416:2010 Полупроводниковые приборы. Испытание горячих носителей МОП-транзисторов