CEI EN IEC 60749-17:2019
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний Часть 17. Нейтронное облучение

Стандартный №

CEI EN IEC 60749-17:2019

Дата публикации

2019

Разместил

SCC

Последняя версия

CEI EN IEC 60749-17:2019

CEI EN IEC 60749-17:2019 История

• 2019 CEI EN IEC 60749-17:2019 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний Часть 17. Нейтронное облучение