IEC 61757-2-2:2016
Оптоволоконные датчики. Часть 2-2. Измерение температуры. Распределенное зондирование

Стандартный №

IEC 61757-2-2:2016

Дата публикации

2016

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 61757-2-2:2016

сфера применения

В этой части стандарта IEC 61757 определены подробные спецификации для распределенного измерения температуры с помощью оптоволоконного датчика@, также известного как оптоволоконное распределенное измерение температуры (DTS). DTS включает использование комбинационного рассеяния света, рассеяния Бриллюэна и эффектов рассеяния Рэлея. Кроме того, измерения на основе комбинационного рассеяния света и рэлеевского рассеяния выполняются только с конфигурацией несимметричного волокна. Измерения на основе рассеяния Бриллюэна выполняются с использованием несимметричного оптоволокна или оптоволоконной конфигурации. Метод, доступный с обеих сторон одновременно (например, оптический анализ Бриллюэна во временной области @ BOTDA), называется здесь петлевой конфигурацией. Общие характеристики оптоволоконных датчиков определены в стандарте IEC 61757-1:2012. Эта часть IEC 61757 определяет наиболее важные параметры производительности DTS и определяет процедуры их определения. В дополнение к группе рабочих параметров@ был определен список дополнительных параметров для поддержки определения спецификаций измерений и связанных с ними процедур испытаний. Определения этих дополнительных параметров предоставлены в информационных целях и должны быть включены в наборы параметров производительности. Определяется общая схема тестирования, в которой все параметры могут быть собраны с помощью набора тестов. Конкретные испытания описаны в разделе для каждого параметра измерения. Эта общая испытательная установка изображена и описана в разделе 4 вместе со списком общей информации, которая должна быть документирована на основе конкретного прибора DTS и испытательной установки, используемой для измерения этих параметров в соответствии с IEC 61757-2-2. В Приложении А представлена пустая таблица параметров производительности, которую следует использовать для записи значений параметров производительности для данного прибора DTS и выбранной конфигурации оптической испытательной установки. Приложение B содержит рекомендации по факультативному определению влияния точечных дефектов.

IEC 61757-2-2:2016 История

• 2016 IEC 61757-2-2:2016 Оптоволоконные датчики. Часть 2-2. Измерение температуры. Распределенное зондирование