T/CPIA 0051-2023 Метод измерения контактного удельного сопротивления металлических электродов фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния Метод модели линии передачи (TLM) (Англоязычная версия)
В этом документе описан метод испытаний для измерения контактного сопротивления металлических электродов фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния с использованием метода модели линии передачи (TLM), включая принципы метода, требования, подготовку образцов, этапы испытаний, обработку данных и отчетность. Этот документ применим к измерению контактного сопротивления металлических электродов фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния в темной комнате.
T/CPIA 0051-2023 История
2023T/CPIA 0051-2023 Метод измерения контактного удельного сопротивления металлических электродов фотоэлектрических элементов из кристаллического кремния Метод модели линии передачи (TLM)