IEEE P1641.1a/D6, December 2017
Проект руководства IEEE по использованию стандарта IEEE Std 1641, стандарта IEEE для сигналов и определения тестов. Поправка содержит рекомендации по созданию многоразовых структур тестовых сигналов (TSF) для использования на платформах, использующих язык автоматической разметки тестов (ATML).