BS EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников — Рекомендации по квалификации надежности ИС

сфера применения: Область применения В этой части МЭК 63287 приведены рекомендации по планам аттестации надежности полупроводниковых интегральных схем. Этот документ не предназначен для применения в военной и космической технике. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Производитель может использовать гибкие размеры выборки для снижения затрат и поддержания приемлемой надежности. в соответствии с данным руководством также может быть применима адаптация на основе EDR-4708, AEC Q100, JESD47 или другого соответствующего документа, если это указано. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Метод распределения Вейбулла, используемый в этом документе, является одним из нескольких методов расчета соответствующего размера выборки и условия испытаний данного проекта надежности.

BS EN IEC 63287-1:2021 История

2021 BS EN IEC 63287-1:2021 Полупроводниковые приборы. Общие рекомендации по квалификации полупроводников — Рекомендации по квалификации надежности ИС