VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020 Технология оптических измерений микротопографии - калибровка интерферометров для измерения площади и интерференционных микроскопов для измерения формы
2020VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2020 Технология оптических измерений микротопографии - калибровка интерферометров для измерения площади и интерференционных микроскопов для измерения формы
2018VDI/VDE 2655 BLATT 1.3-2018 Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Калибровка von flaechenhaftmessenden Interferometern und Interferenzmikroskopen fuer die Formmessung