ASTM E1362-15(2019)
Стандартные методы испытаний для калибровки фотоэлектрических непервичных эталонных ячеек без концентратора

Стандартный №

ASTM E1362-15(2019)

Дата публикации

2019

Разместил

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Последняя версия

ASTM E1362-15(2019)

сфера применения

1.1 Эти методы испытаний охватывают калибровку и определение характеристик непервичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов для желаемого эталонного спектрального распределения излучения. Рекомендуемые физические требования для этих эталонных ячеек описаны в Спецификации E1040. Эталонные элементы в основном используются для определения электрических характеристик фотоэлектрического устройства. 1.2 Непервичные эталонные ячейки калибруются в помещении с использованием искусственного солнечного света или на открытом воздухе при естественном солнечном свете по отношению к ранее откалиброванной эталонной ячейке, которая называется устройством источника калибровки. 1.2.1 Непервичная калибровка будет проводиться по отношению к тому же эталонному спектральному распределению освещенности, что и у калибровочного источника. 1.2.2 Источником калибровки может быть первичная эталонная ячейка, откалиброванная в соответствии с методом испытаний Е1125, или неосновная эталонная ячейка, откалиброванная в соответствии с этими методами испытаний. 1.2.3 В особом случае, когда источником калибровки является первичная эталонная ячейка, полученная непервичная эталонная ячейка также называется вторичной эталонной ячейкой. 1.3 Непервичные эталонные ячейки, откалиброванные в соответствии с этими методами испытаний, будут иметь ту же радиометрическую прослеживаемость, что и калибровочное исходное устройство. Следовательно, если устройство источника калибровки можно проследить до мирового радиометрического эталона (WRR, см. метод испытаний E816), результирующая вторичная эталонная ячейка также будет прослеживаться до WRR. 1.4 Данные методы испытаний применяются только к калибровке фотоэлектрического элемента, который демонстрирует линейную характеристику зависимости тока короткого замыкания от освещенности в предполагаемом диапазоне использования, как определено в методе испытаний E1143. 1.5 Данные методы испытаний применяются только для калибровки фотоэлектрического элемента, изготовленного с использованием одного фотоэлектрического перехода. 1.6 Значения, указанные в единицах СИ, следует считать стандартными. Никакие другие единицы измерения в настоящий стандарт не включены. 1.7 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности, охраны труда и окружающей среды, а также определение применимости нормативных ограничений перед использованием. 1.8 Настоящий международный стандарт был разработан в соответствии с международно признанными принципами стандартизации, установленными в Решении о принципах разработки международных стандартов, руководств и рекомендаций, изданном Комитетом Всемирной торговой организации по техническим барьерам в торговле (ТБТ).

ASTM E1362-15(2019) Ссылочный документ

• ASTM E1021 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
• ASTM E1040 Стандартные спецификации на физические характеристики наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора
• ASTM E1125  Стандартный метод испытаний для калибровки первичных наземных фотоэлектрических эталонных элементов без концентратора с использованием табличного спектра
• ASTM E1143 Стандартный метод испытаний для определения линейности параметра фотоэлектрического устройства относительно испытательного параметра
• ASTM E490 Таблицы спектральной солнечной радиации стандартной солнечной постоянной и нулевой воздушной массы*， 2022-04-01 Обновление
• ASTM E691 Стандартная практика проведения межлабораторного исследования для определения точности метода испытаний
• ASTM E772 Стандартная терминология, касающаяся преобразования солнечной энергии
• ASTM E816 Стандартный метод испытаний для калибровки пиргелиометров путем сравнения с эталонными пиргелиометрами
• ASTM E927 Стандартные спецификации для моделирования солнечной энергии для испытаний наземных фотоэлектрических систем
• ASTM E948 Стандартный метод испытаний электрических характеристик фотоэлектрических элементов с использованием эталонных элементов под воздействием искусственного солнечного света
• ASTM E973 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом
• ASTM G173 Стандартные таблицы для эталонного солнечного спектрального излучения: прямое нормальное и полусферическое на поверхности, наклоненной на 37°.*， 2023-03-01 Обновление

ASTM E1362-15(2019) История

• 2019 ASTM E1362-15(2019) Стандартные методы испытаний для калибровки фотоэлектрических непервичных эталонных ячеек без концентратора
• 2015 ASTM E1362-15 Стандартные методы испытаний для калибровки фотоэлектрических непервичных эталонных ячеек без концентратора
• 2010 ASTM E1362-10 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
• 2005 ASTM E1362-05 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора
• 1999 ASTM E1362-99 Стандартный метод испытаний для калибровки фотоэлектрических вторичных эталонных ячеек без концентратора