YD/T 3037.2.2-2016
Метод испытания характеристик интерфейса USB между универсальной платой интегральной схемы (UICC) и терминалом. Часть 2: UICC (Англоязычная версия)

Стандартный №

YD/T 3037.2.2-2016

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2016

Разместил

工业和信息化部

Последняя версия

YD/T 3037.2.2-2016

YD/T 3037.2.2-2016 История

• 2016 YD/T 3037.2.2-2016 Метод испытания характеристик интерфейса USB между универсальной платой интегральной схемы (UICC) и терминалом. Часть 2: UICC