IEC 61788-24:2018 Сверхпроводимость. Часть 24. Измерение критического тока. Удерживаемый критический ток после двойного изгиба при комнатной температуре сверхпроводящих проводов Bi-2223 в серебряной оболочке.
В этой части IEC 61788 описан метод испытаний для определения остаточного критического тока после двойного изгиба при комнатной температуре коротких и прямых сверхпроводящих проводов Bi-2223 с оболочкой из серебра и/или сплава серебра, которые имеют форму плоской или квадратной ленты, содержащей моноили многоядерные оксиды. Проволоки можно ламинировать лентами из медного сплава или нержавеющей стали или никелевого сплава. Метод испытаний предназначен для использования со сверхпроводниками, имеющими критический ток менее 300 А и значение n более 5. Испытание на определение остаточного критического тока проводится без приложения магнитного поля@ с испытуемым образцом, погруженным в открытая ванна с жидким азотом.
IEC 61788-24:2018 История
2018IEC 61788-24:2018 Сверхпроводимость. Часть 24. Измерение критического тока. Удерживаемый критический ток после двойного изгиба при комнатной температуре сверхпроводящих проводов Bi-2223 в серебряной оболочке.