KS C 2150-2023
Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)

Стандартный №

KS C 2150-2023

Дата публикации

2023

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Последняя версия

KS C 2150-2023

KS C 2150-2023 История

• 2023 KS C 2150-2023 Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)
• 0000 KS C 2150-2008(2018)
• 2008 KS C 2150-2008 Метод измерения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь тонкой диэлектрической пленки в диапазоне высоких частот (500 МГц ~ 10 ГГц)