Стандарт DIN EN IEC 62878-2-602 был выпущен в ноябре 2020 года. Это важная техническая спецификация, разработанная Техническим комитетом по электронным сборкам TC91 Международной электротехнической комиссии (МЭК). В ответ на острую потребность в миниатюризации, низком энергопотреблении и высокой надежности электронного оборудования в эпоху Интернета вещей этот стандарт специально определяет метод оценки электрической связности сложенных электронных модулей.
С быстрым развитием высокопроизводительных серверов, сетевых систем и смартфонов традиционная технология двухмерной электронной сборки больше не может соответствовать требованиям интеграции современного электронного оборудования. Технология сложенных электронных модулей использует трехмерную интеграцию для вертикального размещения нескольких функциональных модулей, что значительно повышает плотность упаковки и производительность системы. Этот стандарт появился в этом техническом контексте, предоставляя отрасли унифицированные спецификации тестирования и оценки.
Настоящий стандарт распространяется на многоярусные электронные модули, изготовленные с использованием технологии сборки встраиваемых устройств, и в первую очередь устанавливает требования к оценке и методы испытаний межмодульных электрических соединений. Стандарт чётко определяет многоярусный электронный модуль как модуль, интегрированный методом трёхмерного стекирования и состоящий из нескольких многоярусных электронных модулей.
Согласно стандарту, испытательное оборудование должно включать в себя следующие основные компоненты:
Испытательное оборудование должно использовать четырехпроводной метод измерения (метод измерения Кельвина), чтобы исключить влияние сопротивления выводов и сопротивления контактов на результаты измерений и обеспечить точность измерений.
В Приложении А к стандарту подробно описаны требования к внешним размерам и расположению выводов образца:
| Элементы параметров | Технические характеристики | Требования к испытаниям |
|---|---|---|
| Внешние размеры | 25×25 мм (квадрат) | Допуск ±0,1 мм |
| Шаг выводов | 1,5 мм | Равномерное распределение |
| Шариковый припой Диаметр | 1,0 мм | Сферичность ≥ 95% |
| Диаметр окна паяльной маски | 0,8 мм | Точность позиционирования ±0,05 мм |
| Диаметр медной контактной площадки | 1,0 мм | Поверхность соответствует стандартам IPC |
Образец должен иметь структуру последовательного соединения, соединяющую все клеммы для формирования непрерывной испытательной цепи. Такая конструкция позволяет проводить комплексную оценку целостности электрического соединения всей сложенной структуры, избегая слепых зон в отдельных точках соединения.
Метод измерения по четырем проводам является основной технологией настоящего стандарта. Принцип его работы заключается в следующем:
Этот метод исключает влияние сопротивления выводов и контактного сопротивления и особенно подходит для точного измерения низкого сопротивления на уровне миллиом.
Процедура испытания, указанная в стандарте, включает три основных этапа:
| Номер шага | Содержание операции | Технические параметры |
|---|---|---|
| 1 | Подача постоянного тока между IN(Force) и OUT(Force) | Значение тока: 100 мА±1% |
| 2 | Измерение напряжения между IN(Sense) и OUT(Sense) | Точность: ±0,1% |
| 3 | Расчет соединения Сопротивление структуры последовательной цепи | Разрешение: 0,1 мОм |
В Приложении B к стандарту приведены репрезентативные примеры различных методов стековой сборки, в том числе:
Каждый метод имеет свои применимые сценарии и технические требования. Производителям необходимо выбрать соответствующий процесс сборки штабелирования в соответствии с конкретными требованиями применения.
При внедрении настоящего стандарта рекомендуется выбирать испытательное оборудование, отвечающее следующим требованиям:
Для обеспечения надежности и повторяемости испытаний Результаты, необходимо сосредоточиться на следующих звеньях контроля качества:
С быстрым развитием технологий 5G, IoT и AI технология стекированных электронных модулей движется в следующих направлениях:
DIN EN IEC Стандарт 62878-2-602 обеспечивает важную основу для испытаний и оценки при разработке этих новых технологий. Ожидается, что в будущем будут выпущены дополнительные дополнения и пересмотры для адаптации к быстрому развитию технологий.
Стандарт DIN EN IEC 62878-2-602 содержит полную техническую спецификацию и руководство по внедрению для оценки электрической связности многоярусных электронных модулей. Благодаря стандартизированным методам испытаний, строгим требованиям к образцам и точным измерительным методикам обеспечивается надежность и сопоставимость результатов оценки. В связи с непрерывным развитием технологии трехмерной интеграции этот стандарт будет играть важную роль в содействии прогрессу в области корпусирования электронных компонентов.
При внедрении этого стандарта производители и испытательные лаборатории должны полностью понимать технические требования, оснащаться соответствующим испытательным оборудованием, создавать надежную систему контроля качества и внимательно следить за последними разработками и изменениями стандарта, чтобы гарантировать их постоянное соответствие новейшим техническим спецификациям.

© 2025. Все права защищены.