DIN 58557-1:2023 Производственное оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение массива микролинз. - Стандарты и спецификации PDF

DIN 58557-1:2023
Производственное оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение массива микролинз.

Стандартный №
DIN 58557-1:2023
Дата публикации
2023
Разместил
German Institute for Standardization
состояние
быть заменен
DIN 58557-1:2023-03
Последняя версия
DIN 58557-1:2023-03
 

Введение
Данная стандартизированная документация предоставляет методы для измерения формы микролинзовых матриц в оборудовании для производства микроэлектромеханических систем. В первой части стандарта описаны процедуры измерения односторонних микролинзовых матриц.

DIN 58557-1:2023 История

  • 2023 DIN 58557-1:2023-03 Производственное оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение массива микролинз.
  • 2023 DIN 58557-1:2023 Производственное оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение массива микролинз.
  • 2022 DIN 58557-1:2022-09 Методы измерения формы массивов микролинз с использованием инструментов для производства микросистем. Часть 1: Одностороннее измерение массивов микролинз
  • 2022 DIN 58557-1 E:2022-03 Производственное оборудование для микросистем - Метод измерения формы массивов микролинз - Часть 1: Одностороннее измерение массива микролинз
  • 2022 DIN 58557-1:2022-02 Проект документа - Производственное оборудование для микросистем - Метод измерения формы массивов микролинз - Часть 1: Одностороннее измерение массива микролинз
  • 2022 DIN 58557-1:2022 Производственное оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение массива микролинз.

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

DIN 58557-1 E:2022-03 оборудование для микросистем - Метод измерения формы массивов микролинз - Часть 1: Одностороннее измерение DIN 58557-1:2022 оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение DIN 58557-1:2023-03 оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение DIN 58557-1:2022-02 оборудование для микросистем - Метод измерения формы массивов микролинз - Часть 1: Одностороннее измерение DIN 58557-1 E:2022 оборудование для микросистем. Метод измерения формы массива микролинз. Часть 1. Одностороннее измерение KS B ISO 14880-2:2013 Оптика и фотоника ― Массивы микролинз ― Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта KS B ISO 14880-2:2008 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 2. Методы испытаний на аберрации волнового фронта ISO/TR 14880-5:2010 Оптика и фотоника. Массивы микролинз. Часть 5. Руководство по испытаниям BS EN ISO 14880-3:2024 Оптика и фотоника. Микролинзовые массивы - Методы испытаний оптических свойств, отличных от аберраций волнового фронта



© 2025. Все права защищены.