ASTM F77-69(1996) Метод испытания кажущейся плотности керамики для применения в электронных устройствах и полупроводниках (отозван в 2001 г.)

сфера применения: 1.1 Настоящий метод испытаний охватывает определение кажущейся плотности керамических деталей, используемых в электронных устройствах и полупроводниковых устройствах, с максимальной толщиной 25 мм (1 дюйм) и с нулевой или прерывистой пористостью. Значения, указанные в единицах Си, следует рассматривать как стандарт. Значения в скобках предназначены только для информации. 1.3 Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Это ответственность пользователя настоящего стандарта за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости или нормативных ограничений перед использованием.

ASTM F77-69(1996) Ссылочный документ

ASTM E29 Стандартная практика использования значащих цифр в тестовых данных для определения соответствия спецификациям

2017 ASTM F77-69(1996) Метод испытания кажущейся плотности керамики для применения в электронных устройствах и полупроводниках (отозван в 2001 г.)