В этом документе указаны процедуры определения общего рассеяния оптическими поверхностями с покрытием и без покрытия. Приведены процедуры измерения вклада рассеяния вперед или назад в общее рассеяние оптического компонента. Настоящий документ распространяется на оптические компоненты с покрытием и без покрытия, оптические поверхности которых имеют радиус кривизны более 10 м. Длины волн измерения, охватываемые этим документом, варьируются от ультрафиолета выше 250 нм до инфракрасной области спектра ниже 15 мкм. Для измерений в глубоком ультрафиолете от 190 до 250 нм рассмотрены и описаны конкретные методы. Обычно оптическое рассеяние считается незначительным для длин волн выше 15 мкм.
EN ISO 13696:2022 История
2022EN ISO 13696:2022 Оптика и фотоника. Метод испытаний на полное рассеяние оптическими компонентами (ISO 13696:2022)
2002EN ISO 13696:2002 Оптика и оптические приборы. Методы испытаний на излучение, рассеянное оптическими компонентами ISO 13696: 2002; Исправлено 25 сентября 2002 г.