GSO IEC 61747-6-3:2014 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей - Стандарты и спецификации PDF

GSO IEC 61747-6-3:2014
Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей

Стандартный №
GSO IEC 61747-6-3:2014
Дата публикации
2014
Разместил
GCC Standardization Organization
Последняя версия
GSO IEC 61747-6-3:2014
 

сфера применения
Эта часть IEC 61747 применяется к жидкокристаллическим дисплеям с активной матрицей пропускающего типа. Этот стандарт определяет общие процедуры оценки качества, связанные с характеристиками движения ЖК-дисплеев. Он определяет артефакты в содержимом движения и методы измерения артефактов движения. П р и м е ч а н и е — Методы измерения размытости изображения и методы анализа, представленные в настоящем стандарте, не могут быть универсальными инструментами для всех различных технологий улучшения движения ЖК-дисплеев из-за их сложности. Пользователи будут уведомлены об этих обстоятельствах.

GSO IEC 61747-6-3:2014 История

  • 2014 GSO IEC 61747-6-3:2014 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей

стандарты и спецификации

DS/EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей IEC 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей OS GSO IEC 61747-6-3:2014 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей DANSK DS/EN 61747-6-3:2011 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей NF C93-547-6-3*NF EN 61747-6-3:2012 жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей CEI EN 61747-6-3:2012 Устройства жидкокристаллического дисплея Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей UNE-EN 61747-6-3:2011 жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей (одобрено DIN CEN/TS 1519-2:2012-05*DIN SPEC 91196:2012-05 Устройства жидкокристаллического дисплея. Часть 6-3. Методы измерения для модулей жидкокристаллического дисплея. Измерение артефактов движения модулей жидкокристаллического дисплея с активной матрицей (IEC



© 2025. Все права защищены.