EN IEC 63155:2020 Руководство по методу измерения энергетической долговечности устройств на поверхностных акустических волнах (SAW) и объемных акустических волнах (BAW) в радиочастотных (РЧ) приложениях
European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）
Последняя версия
EN IEC 63155:2020
сфера применения
IEC 63155:2020 определяет метод измерения для определения долговечности радиочастотных (RF) устройств на поверхностных акустических волнах (SAW) и объемных акустических волнах (BAW), таких как фильтры и дуплексеры, в отношении мощных радиочастотных сигналов, которые используются в телекоммуникациях, измерительном оборудовании, радиолокационных системах и потребительских товарах. Радиочастотные устройства BAW делятся на два типа: устройства, основанные на технологии пленочного объемного акустического резонатора (FBAR), и устройства, основанные на технологии твердосмонтированного резонатора (SMR). Этот документ включает основные характеристики отказов устройств RF SAW/BAW, а также рекомендации по настройке системы измерения и установлению процедуры оценки времени до отказа (TF). Поскольку TF в основном определяется мощностью радиочастот, применяемой в устройствах, обсуждения сосредоточены на долговечности питания. Целью данного документа не является объяснение теории или попытка охватить все возможные ситуации, которые могут возникнуть в практических обстоятельствах. Этот документ привлекает внимание к некоторым наиболее фундаментальным вопросам, которые пользователю необходимо будет рассмотреть, прежде чем он/она разместит заказ на устройство RF SAW/BAW для нового применения. Такая процедура станет для пользователя средством предотвращения неудовлетворительной работы, связанной с преждевременным выходом устройства из строя в результате воздействия высокой мощности на устройства RF SAW/BAW.
EN IEC 63155:2020 История
2020EN IEC 63155:2020 Руководство по методу измерения энергетической долговечности устройств на поверхностных акустических волнах (SAW) и объемных акустических волнах (BAW) в радиочастотных (РЧ) приложениях