IEC 62496-2-4:2013
Карты оптических схем. Основные процедуры тестирования и измерений. Часть 2-4. Тестирование оптической передачи карт оптических схем без входных/выходных волокон (Редакция 1.0).

Стандартный №

IEC 62496-2-4:2013

Дата публикации

2013

Разместил

IEC - International Electrotechnical Commission

Последняя версия

IEC 62496-2-4:2013

заменять

IEC 86/449/FDIS:2013

сфера применения

Эта часть IEC 62496 определяет метод испытаний, позволяющий решить, прошла ли оптическая плата или нет, с использованием прямого освещения светом. Входные порты освещаются напрямую, а интенсивность света от выходных портов оптической платы контролируется с помощью датчика изображения. Избыточные оптические потери рассчитываются на основе общих обнаруженных интенсивностей света от измеряемого образца и от контрольного образца. Этот метод используется для равномерного освещения входного порта оптической платы (OCB) с площадью, большей, чем площадь сердцевины @, получения яркости изображения области из соответствующего выходного порта OCB с использованием датчика изображения области @ и оценки пройти или не пройти, используя полученное сияние по сравнению с сиянием контрольного образца. Преимущество этого метода тестирования заключается в том, что процедура выравнивания между пусковым волокном и OCB не требуется.

IEC 62496-2-4:2013 История

• 2013 IEC 62496-2-4:2013 Карты оптических схем. Основные процедуры тестирования и измерений. Часть 2-4. Тестирование оптической передачи карт оптических схем без входных/выходных волокон (Редакция 1.0).