SJ 2749-1987
Метод измерения полупроводниковых лазерных диодов (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ 2749-1987
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1987
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- состояние
- 2016-06
- быть заменен
- SJ/T 2749-2016
- Последняя версия
- SJ/T 2749-2016
- сфера применения
- Настоящий стандарт применим к проверке фотоэлектрических параметров полупроводниковых лазерных диодов. При ссылке на настоящий стандарт соответствующие конкретные требования должны быть указаны в соответствующей подробной спецификации.
SJ 2749-1987 История
- 2016 SJ/T 2749-2016 Методы испытаний полупроводниковых лазерных диодов
- 1987 SJ 2749-1987 Метод измерения полупроводниковых лазерных диодов
SJ 2749-1987 Метод измерения полупроводниковых лазерных диодов было изменено на SJ/T 2749-2016 Методы испытаний полупроводниковых лазерных диодов.
