SJ/T 11222-2000
Общие спецификации для карт с интегральной схемой. Часть 3. Методы испытаний. (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- SJ/T 11222-2000
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2000
- Разместил
- Professional Standard - Electron
- состояние
- 2011-08
- Последняя версия
- SJ/T 11222-2000
- сфера применения
- Эта спецификация определяет методы испытаний характеристик идентификационных карт, совместимых с определениями, данными в ISO/IEC 7810. Каждый метод испытаний содержит перекрестные ссылки на один или несколько базовых стандартов, которыми может быть ISO/IEC 7810 или один или несколько дополнительных стандартов, определяющих технологии хранения информации для приложений, связанных с идентификационными картами. ПРИМЕЧАНИЕ. Предполагается, что несколько методов испытаний, описанных в данной спецификации, будут выполняться индивидуально. Прописанные карты не обязательны для прохождения всех тестов. Эта спецификация определяет методы тестирования, общие для одной или нескольких карточных технологий.
SJ/T 11222-2000 История
- 2000 SJ/T 11222-2000 Общие спецификации для карт с интегральной схемой. Часть 3. Методы испытаний.
