SJ/T 11207-1999
Измерение магнитных свойств монокристаллических магнитных пленок YIG (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 11207-1999

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1999

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/T 11207-1999

сфера применения

Этот стандарт определяет ширину линии ферромагнитного резонанса △H, константу кубической магнитной анизотропии K|(1) и константу одноосной магнитной анизотропии. Метод измерения K|(u), гиромагнитное отношение y и намагниченность насыщения M|(2). Настоящий стандарт применим для измерения монокристаллических ферритовых пленочных материалов с кубической кристаллической структурой, выращенных методом эпитаксиального выращивания в жидкой фазе.

SJ/T 11207-1999 История

• 1999 SJ/T 11207-1999 Измерение магнитных свойств монокристаллических магнитных пленок YIG