IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005
МЭК 62526 Ред. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.

Стандартный №

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

Дата публикации

2007

Разместил

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Последняя версия

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005

сфера применения

Стандартный язык интерфейса тестирования (STIL) обеспечивает интерфейс между инструментами создания цифровых тестов и испытательным оборудованием. Расширения языка интерфейса тестирования (содержащиеся в этом стандарте) определены, чтобы (1) облегчить использование языка в среде проектирования и (2) ) облегчают использование языка для больших проектов, включающих подпроекты с повторно используемыми шаблонами.

IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 История

• 2007 IEC 62526:2007*IEEE 1450.1:2005 МЭК 62526 Ред. 1 (IEEE Std 1450.1(TM)-2005): Стандарт расширений стандартного языка тестового интерфейса (STIL) для сред проектирования полупроводников.