JJF 1092-2002 (Англоязычная версия) Спецификация калибровки для микроскопов светового сечения - Стандарты и спецификации PDF

JJF 1092-2002
Спецификация калибровки для микроскопов светового сечения (Англоязычная версия)

Стандартный №
JJF 1092-2002
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2002
Разместил
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China
Последняя версия
JJF 1092-2002
 

сфера применения
Данная спецификация применяется к калибровке микроскопов светового сечения.

JJF 1092-2002 История

  • 2002 JJF 1092-2002 Спецификация калибровки для микроскопов светового сечения
 Спецификация калибровки для микроскопов светового сечения

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа NS-EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988 SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа STAS SR ISO 8255-1:1995 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Защитные стекла Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства BS EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования ISO 10934:2020 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа SS-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия - Измерение толщины покрытий - Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022



© 2025. Все права защищены.