Toggle navigation
Стартовая страница
JJF 1092-2002
Спецификация калибровки для микроскопов светового сечения (Англоязычная версия)
Стартовая страница
JJF 1092-2002
Стандартный №
JJF 1092-2002
язык
Китайский,
Доступно на английском
Дата публикации
2002
Разместил
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China
Последняя версия
JJF 1092-2002
сфера применения
Данная спецификация применяется к калибровке микроскопов светового сечения.
JJF 1092-2002 История
2002
JJF 1092-2002
Спецификация калибровки для микроскопов светового сечения
Специальные темы по стандартам и нормам
Калибровка биологического микроскопа
Калибровка биомикроскопа
Метрологический микроскоп
Проверка или калибровка микроскопа
Калибровка микроскопа на микронном уровне
Калибровка спектроскопа
Протокол калибровки микроскопа
Калибровка металлургического микроскопа
Микрокалибровка
Калибровка электронных микроскопов
Калибровочные блоки для электронного микроскопа
Методы калибровки микроскопа
стандарты и спецификации
ISO 9220:1988 Металлические покрытия; измерение толщины покрытия; метод сканирующего электронного микроскопа
NS-EN ISO 9220:1994 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:1988
SIS SS-ISO 9220:1989 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
GSO ISO 9220:2013 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
STAS SR ISO 8255-1:1995 Оптика и оптические инструменты Микроскопы. Защитные стекла Часть 1. Допуски на размеры, толщина и оптические свойства
BS EN ISO 20705:2020 Текстиль. Количественный микроскопический анализ. Общие принципы тестирования
ISO 10934:2020 Оптика и оптические инструменты. Словарь по микроскопии. Часть 1. Световая микроскопия
BS EN ISO 9220:2022 Отслеживаемые изменения. Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа
SS-EN ISO 9220:2022 Металлические покрытия - Измерение толщины покрытий - Метод сканирующего электронного микроскопа (ISO 9220:2022
© 2025. Все права защищены.