JB/T 4220-1999
Метод определения параметра решетки искусственного графита (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- JB/T 4220-1999
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1999
- Разместил
- Professional Standard - Machinery
- состояние
- 2012-04
- быть заменен
- JB/T 4220-2011
- Последняя версия
- JB/T 4220-2011
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет метод определения параметров решетки искусственного графита методом порошковой рентгеновской дифракции (дифракционный метод) и определяет степень графитизации искусственного графита по параметрам решетки. Этот метод пригоден для искусственного графита с высокой степенью графитизации, подвергнутого высокотемпературной термообработке (например, графит для искусственных алмазов и др.).
JB/T 4220-1999 История
- 2011 JB/T 4220-2011 Метод определения параметра решетки искусственного графита
- 1999 JB/T 4220-1999 Метод определения параметра решетки искусственного графита
