JB/T 8268-1999
Стандартный метод испытания дефектов поверхности фотопроводника для электростатического процесса (Англоязычная версия)

Стандартный №

JB/T 8268-1999

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1999

Разместил

Professional Standard - Machinery

состояние

быть заменен 2015-10

быть заменен

JB/T 8268-2015

Последняя версия

JB/T 8268-2015

заменять

JB/T 8268-1995

JB/T 8268-1999 История

• 2015 JB/T 8268-2015 Метод испытания дефектов поверхности фотопроводника процесса электростатического копирования
• 1999 JB/T 8268-1999 Стандартный метод испытания дефектов поверхности фотопроводника для электростатического процесса
• 0000 JB/T 8268-1995