IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023 CSV
Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.

Стандартный №

IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023 CSV

Дата публикации

2023

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

Последняя версия

IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023 CSV

IEC 60811-202:2012+AMD1:2017+AMD2:2023 CSV История

• 2023 IEC 60811-202:2012/AMD2:2023 Поправка 2. Кабели электрические и волоконно-оптические. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.
• 2017 IEC 60811-202:2012/AMD1:2017 Кабели электрические и волоконно-оптические. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки; Поправка 1
• 2017 IEC 60811-202:2017 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.
• 2012 IEC 60811-202:2012 Кабели электрические и оптоволоконные. Методы испытаний неметаллических материалов. Часть 202. Общие испытания. Измерение толщины неметаллической оболочки.