CNS 5077-1988
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание прочности выводов) (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- CNS 5077-1988
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1988
- Разместил
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Последняя версия
- CNS 5077-1988
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет методы испытаний для оценки прочности клеммной части одного полупроводникового устройства, когда оно подвергается воздействию сил, возникающих во время установки, подключения или использования.
CNS 5077-1988 История
- 1988 CNS 5077-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание прочности выводов)
