CNS 5074-1988
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание на свободное падение) (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- CNS 5074-1988
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1988
- Разместил
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Последняя версия
- CNS 5074-1988
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет методы испытаний структурной и механической стойкости одного полупроводникового устройства, используемого в электронных устройствах, при воздействии нерегулярных повторяющихся ударов, вызванных использованием, обращением и практическим использованием.
CNS 5074-1988 История
- 1988 CNS 5074-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытание на свободное падение)
