CNS 5071-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (циклическое испытание на температуру и влажность) (Англоязычная версия)
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
Последняя версия
CNS 5071-1988
сфера применения
Настоящий стандарт определяет метод испытаний с целью оценки устойчивости к деградации одного полупроводникового устройства в условиях высокой температуры и высокой влажности, вызванной ускоренным методом.
CNS 5071-1988 История
1988CNS 5071-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (циклическое испытание на температуру и влажность)