CNS 5070-1988
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (циклическое испытание на температуру) (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- CNS 5070-1988
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1988
- Разместил
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Последняя версия
- CNS 5070-1988
- сфера применения
- Этот стандарт определяет метод испытаний на устойчивость одного полупроводникового устройства к высоким и низким температурам, а также степень изменения температуры между двумя температурами.
CNS 5070-1988 История
- 1988 CNS 5070-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (циклическое испытание на температуру)
