CNS 5545-1988
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых устройств, испытание транзистора на обратное смещение при высокой температуре) (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- CNS 5545-1988
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 1988
- Разместил
- Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China
- Последняя версия
- CNS 5545-1988
- сфера применения
- Этот стандарт определяет метод испытаний транзистора на устойчивость к температурным нагрузкам и напряжениям, а также использование определенных методов для ускорения его разрушения в состоянии отсечки для оценки срока службы.
CNS 5545-1988 История
- 1988 CNS 5545-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых устройств, испытание транзистора на обратное смещение при высокой температуре)
