CNS 5541-1988
Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытания транзисторов в непрерывном режиме) (Англоязычная версия)

Стандартный №

CNS 5541-1988

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

1988

Разместил

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China

Последняя версия

CNS 5541-1988

сфера применения

Настоящий стандарт устанавливает метод испытаний для оценки степени электрического воздействия (напряжения, тока) и температурного воздействия (в том числе повышения температуры под нагрузкой), которое транзисторы могут выдерживать в течение длительного времени.

CNS 5541-1988 История

• 1988 CNS 5541-1988 Методы испытаний на воздействие окружающей среды и методы испытаний на долговечность дискретных полупроводниковых приборов (испытания транзисторов в непрерывном режиме)