DLA SMD-5962-09207 REV D-2012 МИКРОЦЕПЬ, ГИБРИДНЫЙ, РЕГУЛЯТОР НАПРЯЖЕНИЯ С НИЗКИМ ПАДЕНИЕМ, ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ И ОТРИЦАТЕЛЬНЫЙ, РЕГУЛИРУЕМЫЙ - Стандарты и спецификации PDF

DLA SMD-5962-09207 REV D-2012
МИКРОЦЕПЬ, ГИБРИДНЫЙ, РЕГУЛЯТОР НАПРЯЖЕНИЯ С НИЗКИМ ПАДЕНИЕМ, ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ И ОТРИЦАТЕЛЬНЫЙ, РЕГУЛИРУЕМЫЙ

Стандартный №
DLA SMD-5962-09207 REV D-2012
Дата публикации
2012
Разместил
Defense Logistics Agency
состояние
 

Введение
Этот стандарт устанавливает технические требования к определенным типам электронных компонентов. Он описывает параметры и характеристики, которые должны соответствовать данным устройствам. В нем содержатся указания по применению, проверке и эксплуатации указанных изделий. Стандарт также включает в себя информацию о допустимых условиях окружающей среды и методы тестирования. Он служит основой для обеспечения соответствия продукции определенным стандартам качества и безопасности. Данный документ может использоваться в различных отраслях, где требуется использование подобных компонентов. Стандарт содержит обозначения, которые помогают в понимании и применении указанных требований.

стандарты и спецификации

DLA SMD-5962-09207 REV B-2012 , ГИБРИДНЫЙ, РЕГУЛЯТОР НАПРЯЖЕНИЯ С НИЗКИМ ПАДЕНИЕМ, ПОЛОЖИТЕЛЬНЫЙ И ОТРИЦАТЕЛЬНЫЙ, РЕГУЛИРУЕМЫЙ DLA SMD-5962-91670-1995 МИКРОЦЕПЬ ЛИНЕЙНЫЙ РЕГУЛЯТОР НАПРЯЖЕНИЯ 12 В С НИЗКИМ ПАДЕНИЕМ, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ DLA SMD-5962-91669-1995 МИКРОЦЕПЬ ЛИНЕЙНЫЙ РЕГУЛЯТОР НАПРЯЖЕНИЯ С НИЗКИМ БАДОМ 5 В, МОНОЛИТНЫЙ КРЕМНИЙ SJ 50597/61-2005 Подробная спецификация полупроводниковых интегральных схем для типов JW1083/JW1084/JW1085/JW1086 трехконтактных регулируемых стабилизаторов положительного ASTM F618-79e1 Стандартный метод измерения порогового напряжения насыщения МОП-транзистора ASTM F617M-95 Измерение линейного порогового напряжения MOSFET [метрическая система ASTM B497-00(2012 Стандартное руководство по измерению падения напряжения на замкнутых дугогасительных контактах ASTM B497-00(2006 Стандартное руководство по измерению падения напряжения на замкнутых дугогасительных контактах ASTM F617-00 Стандартный метод испытаний для измерения линейного порогового напряжения MOSFET (отозван в 2006 г



© 2025. Все права защищены.