Последние достижения науки и техники приблизили электронные устройства к нашей повседневной жизни. Что касается жизненного цикла электронных продуктов, ожидается, что некоторые из них будут иметь более длительный срок службы в важных приложениях, тогда как другие будут использоваться в течение более коротких периодов жизни. Примечательно, насколько расширились и диверсифицировались рынки полупроводниковых приложений в наши дни. Например, существуют портативные терминалы, которые приходится часто заменять, например мобильные телефоны. С другой стороны, существуют электронные устройства, которым требуется длительный срок службы в суровых условиях, например электронные компоненты для автомобилей. Большая часть этих электронных изделий без исключения включает в себя большое количество полупроводниковых приборов. Состоящие из множества материалов (кремний, оксидные слои, металлические микроэлементы, диэлектрики и т. д.), а также из более чем одного миллиарда транзисторов и еще большего числа контактов, полупроводниковые устройства, включая корпуса, в которых размещаются игральные кости, превратились в чрезвычайно крупные системы. . Эволюция полупроводниковой технологии включает в себя улучшение дорожек и диэлектрических слоев, таких как очень тонкий диэлектрик затвора, материалы с высоким k и материалы Cu/low-k, а также технологии упаковки высокой плотности, включая SiP и наращиваемые подложки. Значительный прогресс был достигнут в направлении более точных структур, более высокой интеграции, более высокой скорости и меньшего энергопотребления. Требования к надежности для таких сложных крупномасштабных систем такие же, как и для обычных устройств, или даже более строгие. По сравнению с механическими компонентами полупроводниковые приборы обычно характеризуются более высокой надежностью. Тем не менее, требуются соответствующие планы обеспечения надежности в соответствии с применением и назначением устройств. С другой стороны, основы критериев надежности не всегда технически осязаемы, хотя продолжительность нагрузки или количество циклов нагрузки уже указаны в программе квалификации. Одним из примеров является продолжительность нагрузки 1000 часов при испытании на долговечность при работе при высоких температурах или испытании на погрешность при температуре и влажности. Тест на ускорение предназначен для прогнозирования и проверки уровня надежности. Для этой цели соответствующее ускорение оценивается на основе целевого механизма разрушения. Затем соответствующее время испытаний или циклы нагрузки определяются на основе коэффициента ускорения между условиями испытаний и условиями использования. В результате этого рассмотрения время тестирования или циклы тестирования в некоторых случаях значительно сокращаются, что совершенно противоречит здравому смыслу. Механизмы отказа в ускоренном стресс-тесте можно разделить на внутренние и внешние.