JEDEC JESD94A-2008
Квалификация конкретного приложения с использованием методологии тестирования, основанной на знаниях

Стандартный №

JEDEC JESD94A-2008

Дата публикации

2008

Разместил

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association

сфера применения

Метод, описанный в этом документе, применяется ко всем испытаниям надежности твердотельных компонентов с известными механизмами отказа, специфичным для конкретного приложения, где продолжительность и условия испытаний варьируются в зависимости от переменных приложения. В этом документе не рассматриваются испытания надежности, основанные на характеристиках, или, по существу, испытания типа «годен/не годен», например, ESD, фиксация или электрическое перенапряжение. Кроме того, он не пытается охватить каждый механизм отказа или тестовую среду, но предоставляет методологию, которую можно распространить на другие механизмы отказа и тестовые среды. Целью данного документа является предоставление метода разработки методологии оценки надежности конкретного приложения, основанной на условиях использования, которые полупроводниковое устройство, как ожидается, будет испытывать в полевых условиях. Предполагается, что механизмы и модели отказов, относящиеся к тестируемому продукту, являются известным объектом.

JEDEC JESD94A-2008 Ссылочный документ

• JEDEC JEP148 Квалификация надежности полупроводниковых приборов на основе физики отказов, оценки рисков и возможностей
• JEDEC JESD22-A101 Испытание на устойчивость к устойчивому смещению температуры и влажности
• JEDEC JESD22-A102 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный автоклав*， 2023-11-09 Обновление
• JEDEC JESD22-A110 Метод испытаний A110-B Высокоскоростное стресс-тестирование при температуре и влажности (HAST)
• JEDEC JESD22-A118 Ускоренная устойчивость к влаге – беспристрастный HAST*， 2023-11-09 Обновление
• JEDEC JESD85 Методы расчета интенсивности отказов в единицах FIT