DD ENV 623-5-2002 Передовая техническая керамика. Монолитная керамика. Общие и текстурные свойства. Определение объемной доли фазы путем оценки микрофотографий
Этот европейский предварительный стандарт определяет ручной метод проведения измерений для определения объемной доли основных фаз в современной технической керамике с использованием микрофотографий полированных и протравленных сечений, наложения квадратной сетки линий и подсчета количества пересечений, лежащих над каждой фазой. ПРИМЕЧАНИЕ 1. Этот метод предполагает, что истинные объемные доли фазы эквивалентны долям площади на случайно вырезанном поперечном сечении в соответствии со стереологическими принципами. ПРИМЕЧАНИЕ 2. Рекомендации по полировке и травлению современной технической керамики можно найти в приложениях А и В. Этот метод применяется к керамике с одной или несколькими отчетливыми вторичными фазами, такими как Al2O3/ZrO2, Si/SiC или Al2O3/SiCw. Если испытуемый материал содержит отдельные поры, их можно рассматривать как вторичную фазу для целей настоящего метода при условии, что нет признаков выщипывания зерен во время полировки, которые можно спутать с настоящими порами. П р и м е ч а н и е 3 — Если материал имеет пористость более 20 %, существует большой риск того, что микроструктура будет повреждена в процессе полировки, и измерение объемной доли пор может ввести в заблуждение. Объемные доли вторичной фазы или пористость, присутствующие на уровне менее 0,05, подвержены значительной погрешности и потенциальному разбросу результатов. Для повышения согласованности и точности результатов обычно требуется большее количество микрофотографий, чем минимум три. ПРИМЕЧАНИЕ 4. Многие керамики содержат небольшое количество вторичных стеклообразных фаз. Чтобы сделать разумную оценку содержания стекловидной фазы, материал стекла между кристаллическими зернами должен быть легко видимым и, следовательно, должен иметь ширину не менее 0,5 мкм. Метод настоящего стандарта не считается подходящим для узких стекловидных пленок вокруг зерен. Этот метод предполагает, что выбранные области подготовленного поперечного сечения статистически репрезентативны для всего отобранного сечения. ПРИМЕЧАНИЕ 5. Микроструктуры редко бывают однородными, а содержание фаз может меняться от микрофотографии к микрофотографии. Важно обследовать достаточно широкую территорию подготовленного участка, чтобы гарантировать, что выбранные для оценки участки являются репрезентативными и не содержат бросающихся в глаза нарушений. Некоторые пользователи этого предварительного стандарта могут пожелать применить автоматический или полуавтоматический анализ изображений к микрофотографиям или непосредственно полученным изображениям микроструктур. В настоящее время это выходит за рамки настоящего предварительного стандарта, но некоторые рекомендации приведены в приложении C.
DD ENV 623-5-2002 Ссылочный документ
EN ISO/IEC 17025 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий*， 2017-12-01 Обновление
ISO/IEC 17025:1999 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий