IS 3972 Pt.2/Sec.2-1985 Методы испытаний стеклянных эмалей. Часть 2. Методы испытаний. Раздел 2. Испытания низким и высоким давлением для обнаружения и локализации дефектов.
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний для обнаружения и локализации дефектов листовой стали, эмалированной стекловидным слоем, и изделий из чугуна, эмалированных стекловидным слоем, низким и высоким напряжением. Примечание 1 — Испытание низким напряжением не является альтернативой испытанию высоким напряжением, а представляет собой метод неразрушающего контроля для обнаружения дефектов, распространяющихся вплоть до металлической основы и слабых мест в слое эмали. Примечание 2 — Целью испытания высоким напряжением является обнаружение и локализация дефектов, доходящих до металлической основы, и слабых мест в слое эмали, то есть тех участков слоя эмали, где его толщина падает ниже установленного требуемого значения. в результате применения высокого напряжения из-за вздутий, включений инородных тел, сколов или трещин.