DIN EN 60749-6:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре (IEC 60749-6:2002); Немецкая версия EN 60749-6:2003
- Стандартный №
- DIN EN 60749-6:2003
- Дата публикации
- 2003
- Разместил
- German Institute for Standardization
- состояние
- быть заменен
- DIN EN 60749-6:2017
- DIN EN 60749-6 E:2016-09
- Последняя версия
- DIN EN 60749-6:2017-11
- заменять
- DIN EN 60749:2002
- сфера применения
- Целью данной части стандарта DIN EN 60749 является проверка и определение воздействия на все полупроводниковые электронные устройства хранения при повышенной температуре без приложения электрического напряжения. Этот тест считается неразрушающим, но его предпочтительно использовать для квалификации устройства.
DIN EN 60749-6:2003 История
- 0000 DIN EN 60749-3:2018
- 2003 DIN EN 60749-3:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр (IEC 60749-3:2002); Немецкая версия EN 60749-3:2002.
- 0000 DIN EN 60749:2002
