Этот стандарт устанавливает единые методы, средства контроля и процедуры тестирования микроэлектронных устройств, пригодных для использования в военных и аэрокосмических электронных системах, включая базовые экологические испытания для определения устойчивости к вредному воздействию природных элементов и условий, окружающих военные и космические операции; механические и электрические испытания; процедуры изготовления и обучения; а также такие другие средства контроля и ограничения, которые были сочтены необходимыми для обеспечения единообразного уровня качества и надежности, подходящего для предполагаемого применения этих устройств. Для целей настоящего стандарта термин «устройства» включает такие изделия, как монолитные, многокристальные, пленочные и гибридные микросхемы,