TIA-455-199-2002 FOTP-199 Метод измерения перекрестных поляризационных помех в линии для оптических волокон, компонентов и систем с сохранением поляризации - Стандарты и спецификации PDF

TIA-455-199-2002
FOTP-199 Метод измерения перекрестных поляризационных помех в линии для оптических волокон, компонентов и систем с сохранением поляризации

Стандартный №
TIA-455-199-2002
Дата публикации
2002
Разместил
(U.S.) Telecommunications Industries Association 
сфера применения
FTOP-199 Метод линейного измерения перекрестных поляризационных помех для оптических волокон, компонентов и систем с сохранением поляризации



© 2023. Все права защищены.