(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
сфера применения
Мягкие ошибки — это неразрушающие функциональные ошибки, вызванные ударами энергичных ионов. Мягкие ошибки представляют собой подмножество эффектов одного события (SEE) и включают в себя однособытийные сбои (SEU), многобитные сбои (MBU), однособытийные функциональные прерывания (SEFI), однособытийные переходные процессы (SET), которые, если они зафиксированы, становятся SEU и однособытийным затвором (SEL), где образование паразитного биполярного действия в ячейках КМОП создает путь с низким импедансом между питанием и землей, создавая состояние высокого тока (SEL также может вызывать скрытые и серьезные ошибки).