(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
состояние
сфера применения
Ускоренные испытания обычно используются для поиска и выявления потенциальных механизмов отказа полупроводниковых устройств и оценки частоты их возникновения в электронных системах. Исторический подход к исследованию взаимосвязи между максимальной интенсивностью отказов под нагрузкой и интенсивностью отказов системы заключается в выборе единственной репрезентативной «эквивалентной» энергии термической активации для данного продукта или группы продуктов. Одно наилучшее значение энергии активации облегчает точную оценку коэффициента ускорения для оценки частоты отказов устройства в системном приложении. Хотя этот подход в целом принят в отрасли из-за его простоты и прямой связи с продуктами, был разработан другой метод — метод суммы отказов, который позволяет лучше понять, почему устройства выходят из строя.