(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
сфера применения
Этот документ определяет содержание и формат отчетов, описывающих анализ отказов полупроводниковых устройств. Для целей настоящего документа разрушающий физический анализ (DPA), строительный анализ и отдельные запросы на аналитические услуги не рассматриваются как анализ отказов.