DD ENV 50218-1996
Описание параметризованного европейского мини-тестового чипа

Стандартный №

DD ENV 50218-1996

Дата публикации

1996

Разместил

British Standards Institution (BSI)

сфера применения

Документирует параметризованные тестовые структуры MOS модели устройства. Извлечение параметров тестового чипа (PTC) европейского мини-тестового чипа (ETC).