DANSK DS/EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах
Стандарт определяет методы механических и климатических испытаний для полупроводниковых устройств. В нем описываются способы применения акустической микроскопии для исследования пластиковых упаковок электронных компонентов. Стандарт включает требования к проведению испытаний, условия их выполнения и критерии оценки результатов. Он направлен на обеспечение согласованности методов и повышение точности измерений. Стандарт также устанавливает рекомендации по интерпретации полученных данных. В нем рассматриваются различные аспекты применения акустической микроскопии в процессе тестирования. Стандарт может использоваться в промышленности для контроля качества и обеспечения надежности электронных изделий.
*** Обратите внимание: это описание может быть неточным, обратитесь к официальной документации.
DANSK DS/EN 60749-35:2007 История
2007DANSK DS/EN 60749-35:2007 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 35. Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах