GB/T 43493.2-2023 (Англоязычная версия) Неразрушающий контроль и критерии идентификации дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых приборов полупроводниковых приборов Часть 2. Оптический метод обнаружения дефектов - Стандарты и спецификации PDF

GB/T 43493.2-2023
Неразрушающий контроль и критерии идентификации дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых приборов полупроводниковых приборов Часть 2. Оптический метод обнаружения дефектов (Англоязычная версия)

Стандартный №
GB/T 43493.2-2023
язык
Китайский, Доступно на английском
Дата публикации
2023
Разместил
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Последняя версия
GB/T 43493.2-2023
 

GB/T 43493.2-2023 История

  • 2023 GB/T 43493.2-2023 Неразрушающий контроль и критерии идентификации дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых приборов полупроводниковых приборов Часть 2. Оптический метод обнаружения дефектов

Специальные темы по стандартам и нормам

стандарты и спецификации

BS IEC 63068-1:2019 Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов гомоэпитаксиальных пластин карбида кремния для силовых устройств - Классификация BS IEC 63068-2:2019 Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов гомоэпитаксиальной пластины карбида кремния для силовых устройств - Метод контроля IEC 63068-2:2019 Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов гомоэпитаксиальной пластины карбида кремния для силовых устройств. Часть 2. Метод BS IEC 63068-3:2020 Полупроводниковые приборы. Критерии неразрушающего распознавания дефектов гомоэпитаксиальной пластины карбида кремния для силовых устройств - Метод контроля MT 684-1997 Спецификация метода неразрушающего контроля и приемка важных несущих элементов подъемного судна, используемого в шахтах KS D 0232-1995 Способ вихретокового контроля стальных изделий методом охватывающей катушки UEAW-1986 Справочник по ультразвуковому контролю аустенитных сварных швов ANSI/ASTM E1161:1996 Метод испытаний радиологического исследования полупроводников и электронных компонентов ASTM F523-93(1997 Стандартная практика визуального контроля полированных поверхностей кремниевых пластин без посторонней помощи ASTM E1161-95 Стандартный метод испытаний радиологического исследования полупроводников и электронных компонентов

GB/T 43493.2-2023 - Все части




© 2024. Все права защищены.